高分辨率高倍顯微鏡飛納電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 是*的集成化成像分析系統(tǒng)。借助該系統(tǒng)，既可觀察樣品的表面形貌，又可分析其元素組分。研究樣品時(shí)，得到樣品的形貌信息只是解決了一半問題。獲得樣品的元素組分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊設(shè)計(jì)的能譜探測器，飛納電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 可以完善解決上述所有問題。
zui高可重復(fù)性
1、電動控制硬件，以便在寬場（WF）、SR-SIM、PALM 和激光掃描顯微技術(shù)（LSM）等熒光成像模式之間實(shí)現(xiàn)輕松切換
2、使用 AOTF 控制的激光器和各種濾色片在多達(dá)4 個(gè)通道內(nèi)采集多色超分辨率數(shù)據(jù)
3、借助物鏡及與各種超高分辨率技術(shù)相匹配的先進(jìn) EM-CCD 和sCMOs 相機(jī)探測器，獲取且可重復(fù)的結(jié)果
圖像品質(zhì)始終如
1、采用特殊設(shè)計(jì)的光柵為每種波長提供*分辨率
2、選擇的視野范圍（FOV）大小來捕獲整個(gè)細(xì)胞，或提高激光功率密度以實(shí)現(xiàn)更的光切換
3、利用的定位信息對圖像進(jìn)行三維渲染
4、擁有大量照明方案（EPI、HILO、TIRF）及用于獲得zui高圖像質(zhì)量的漂移與顏色校正高性能算法
